ระบบทดสอบชีวิต IOL เป็นระยะ ๆ

ระบบทดสอบชีวิตเป็นระยะ ๆ

รุ่นผลิตภัณฑ์

GK-IOL-X8

GK-IOL-X16

ขอบเขตของแอปพลิเคชัน

เหมาะสำหรับการทดสอบชีวิตแบบไม่ต่อเนื่องและคงที่ของไดโอด SI/SIC, ทรานซิสเตอร์, MOSFETS, IGBT และอุปกรณ์อื่น ๆ ในรูปแบบบรรจุภัณฑ์ต่างๆ

คุณสมบัติ

1, การวัดเวลาเรียลไทม์ของอุณหภูมิทางแยก TJ ของตัวอย่างในระหว่างการทดลองและการแสดงความแตกต่างของอุณหภูมิทางแยก△ TJ;

2 การใช้การออกแบบแบบแยกส่วนแต่ละโมดูลเป็นหน่วยทดสอบอิสระ แต่ละโมดูลมีห้องทดสอบอิสระบรรลุความเป็นอิสระอย่างสมบูรณ์ระหว่างบอร์ด ท่ออากาศของแต่ละหน่วยทดสอบไม่ส่งผลต่อกันและกัน

3 ในโหมดการดีบักไม่ว่าจะอยู่ในสถานะเปิดหรือปิดสามารถรวบรวม TJ อุณหภูมิทางแยกได้ทุกวินาทีและเส้นโค้งการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิที่สมบูรณ์สามารถวาดเพื่อป้องกันความเสียหายของอุปกรณ์เมื่อค้นหาเงื่อนไขการทดสอบ

4 สถานีทั้งหมดเชื่อมต่อแบบขนานและกระแสการทดสอบยังคงสอดคล้องกัน

5 ติดตั้งฟังก์ชั่นการชดเชย VF;

6, ฟังก์ชั่นการปรับเส้นโค้งรับ VF ที่สอดคล้องกันในเวลา t =0 และคำนวณ TJ ที่แท้จริง

ช่องทดสอบ

8 (หนึ่งบอร์ดหนึ่งโซน)

16 (หนึ่งบอร์ดหนึ่งโซน)

ความสามารถในการทดสอบ

48×8=384

48×16=768

ฟังก์ชั่นพื้นฐาน

①each Channel จัดเตรียมชุดอุปกรณ์พลังงานที่ตั้งโปรแกรมได้อิสระ

②การทดสอบพารามิเตอร์ (ton/toff, vgs, im, ids, vds, โหมดพัดลม); สนับสนุนการตรวจจับ TJ สำหรับเวิร์กสเตชันทั้งหมด

③สำหรับไดโอดและ IGBTS โหมดซีรีส์จะถูกนำมาใช้และช่วงการทดสอบช่วงปัจจุบันสำหรับแต่ละเวิร์กสเตชันคือ 0-20 a; สำหรับ MOS การเชื่อมต่อแบบขนานจะถูกนำมาใช้โดยมีกระแสคงที่ในแต่ละเวิร์กสเตชัน

④each Channel จัดเตรียมชุดอุปกรณ์พลังงานที่ตั้งโปรแกรมได้อิสระ

⑤การแสดงเวลาที่แท้จริงของพารามิเตอร์อายุและการพรรณนาถึงเส้นโค้งการเปลี่ยนแปลงที่สมบูรณ์

⑥การตัดสินเวลาที่แท้จริงว่าเกินขีด จำกัด หรือไม่สัญญาณเตือนที่เกินขีด จำกัด และบันทึกสถานีที่เกินและเกินเวลา

มิติภายนอก

W1140mmхh1820mmхd1320mm

W1620mmхh1820mmхd1320mm

น้ำหนัก

ประมาณ 500 กิโลกรัม

ประมาณ 800 กิโลกรัม